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產(chǎn)品分類致茂58604雷射二極體燒機及可靠性測試系統(tǒng) 可提供燒機測試,信賴性測試與老化測試 支持自動電流控制模式(ACC)與自動功率控制模式(APC) 個別通道(Channel)驅(qū)動與量測 每個通道可供應(yīng)達(dá)500mA的電流 達(dá)125℃ 的精確溫度控制 個別模組(module)獨立操作
致茂Chroma 58620 激光半導(dǎo)體特性測試機 全自動化檢測邊射型激光半導(dǎo)體芯片 高精密及高容量載具設(shè)計 自動光纖耦合測試對位設(shè)計(Auto-alignment) AOI輔助定位,加速測試時間 共用載具設(shè)計可搭配燒機測試
致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統(tǒng) 可同時檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴膜晶圓(檢測區(qū)域達(dá)8吋范圍 ) 可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項目 上片后晶圓自動對位機制
Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統(tǒng) 58635-L光電組件晶圓LIV點測系統(tǒng) 58635-N光電組件近場量測點測系統(tǒng) 58635-F光電組件遠(yuǎn)場量測點測系統(tǒng)
54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器 54100致冷芯片溫度控制器 54130-27-12致冷芯片控制器 300W 54180-40-20致冷芯片控制器 800W